儀器簡介:功能:配置多項拓展功能,能實現掃描/平行成像、XPS采譜、角分辨XPS、刻蝕深度剖析、REELS、UPS、ISS等多項功能。優勢:配置高達0.44 eV能量分辨率的半球能量分析器和束斑最小可調節縮小至14.5 μm的微聚焦單色化X射線源,能實現對樣品微區域的準確分析;中和槍系統包含同軸非準直電子中和源及同源雙束中和源,能
2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】 Tags: 分析儀器 物性分析 X射線光電子能譜儀 電子能譜儀
儀器簡介:功能:通過非接觸的方式進行樣品表面三維形貌觀察和測量。最高分辨率達10 nm,可以方便快捷地獲取影像,同時配備豐富的測量功能,可測量材料線粗糙度及面粗糙度。優勢:采用了雙共焦系統,結合高靈敏度的探測器,可以測量那些具有不同反射率材料的樣品。多層模式可實現對透明樣品的頂部的透明層進行觀察和測量。O
2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】 Tags: 分析儀器 物性分析 激光共聚焦顯微鏡 聚焦顯微鏡
儀器簡介:功能:測量液滴與表面之間的粘附力;測量液體的表面/界面張力并分析表面張力中的極性力與色散力;測量固體材料(薄膜、片、棒,纖維、粉末)的接觸角;計算固體材料表面自由能。優勢:是Dataphysics表面界面張力儀系列中的一款高端型號,具有精度高,功能強大,應用廣泛,易操作等特點。主要技術參數:1、表面/界
2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】 Tags: 分析儀器 物性分析 表面張力測定儀 測定儀
儀器簡介:功能:臺階高度、粗糙度、波紋度、翹曲度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌測量及分析。低測定力模式不僅能夠避免劃傷樣品,也能對于軟性樣品進行測試,適合于各類晶片、薄膜、涂層、MEMS、平板顯示等領域的表面測量。優勢:采用了Kosaka獨有的直動式臺階測量方式,有效避免了傳統杠桿式臺階儀所帶來的圓弧誤差。
2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】 Tags: 分析儀器 物性分析 臺階儀
儀器簡介:功能:快速、可靠地測量大部分半透明或具有輕微吸收性的薄膜材料厚度、光學常數、表面粗糙度。優勢: 實時測量和分析各種多層次的、薄的、厚的,獨立的和不均勻的層。豐富的材料庫 (500多種材料),可支持參數化材料:Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA 等。操作軟件支持一鍵式測量和分析,仿真和靈敏度分析
2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】 Tags: 分析儀器 物性分析 薄膜測厚儀
儀器簡介:功能:AFM常用于測量樣品表面納米級形貌結構及表面粗糙度信息,同時配置KPFM、PeakForce QNM等特殊的功能模塊,可獲取材料納米尺度的楊氏模量、粘滯力、壓電特性、摩擦系數、表面磁疇、電荷、電勢的分布圖。優勢:Dimension FastScan是世界上掃描速度最快的原子力顯微鏡,在保證最高分辨和最優異的儀器檢測性能的
2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】 Tags: 分析儀器 物性分析 掃描探針顯微鏡 探針顯微鏡