儀器簡介:功能:AFM常用于測量樣品表面納米級形貌結構及表面粗糙度信息,同時配置KPFM、PeakForce QNM等特殊的功能模塊,可獲取材料納米尺度的楊氏模量、粘滯力、壓電特性、摩擦系數、表面磁疇、電荷、電勢的分布圖。優(yōu)勢:Dimension FastScan是世界上掃描速度最快的原子力顯微鏡,在保證最高分辨和最優(yōu)異的儀器檢測性能的
2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】 Tags: 分析儀器 物性分析 掃描探針顯微鏡 探針顯微鏡