時間:2022-01-07來源:趙云經理
儀器簡介:
功能:AFM常用于測量樣品表面納米級形貌結構及表面粗糙度信息,同時配置KPFM、PeakForce QNM等特殊的功能模塊,可獲取材料納米尺度的楊氏模量、粘滯力、壓電特性、摩擦系數、表面磁疇、電荷、電勢的分布圖。
優勢:Dimension FastScan是世界上掃描速度最快的原子力顯微鏡,在保證最高分辨和最優異的儀器檢測性能的前提下,能實現對樣品形貌的超高速表征;提供智能掃描模式及液下掃描模式;配置電化學液體池及加熱組件,能對樣品在加熱及電化學反應過程中的形貌和力學特征量的變化進行實時的測量;高分辨納米力學特性測量模式,能實時獲取每一個像素點的力學譜線。
主要技術參數:
1、285~1285倍放大輔助光學系統;
2、 Z方向噪聲水平<30 pm,XY方向定位噪音水平<0.1 nm;
3、 Icon探頭最大掃描尺寸100*100 μm2,Z方向13.4 μm;
4、 FastScan探頭最大掃描尺寸33*33 μm2,Z方向3.4 μm;
5、 FastScan探頭掃描速度可高達6 Hz-20 Hz;
6、加熱組件溫度控制范圍:-35 ℃~250 ℃,電化學溫控系統:RT~60 ℃。
應用領域:
應用于半導體、納米功能材料、生物、醫藥研究等各種納米相關領域材料的表面形貌2D、3D圖觀察,膜層厚度,相關電學、力學、磁學性質的測量。
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