儀器簡介：

Zetasizer Nano ZS 納米粒度分析儀分別采用NIBS技術(shù)、M3-PALS技術(shù)、雪崩光電二極管檢測器和光纖檢測光學(xué)裝置對粒徑、水/非水分散體系中的Zeta電位、絕對分子量進行精準測量；采用175°和12.8°相結(jié)合的雙角度測量模式，檢測體系中的締合物含量 。

將Nano ZS與MPT-2自動滴定儀連用，可檢測一系列環(huán)境條件下顆粒的Zeta電位和粒徑的變化趨勢，實現(xiàn)趨勢測量和樣品制備的自動化。

主要技術(shù)參數(shù)功能特點：

1. 最大粒徑范圍：0.6 nm～6 μm，樣品濃度范圍：0.1 ppm～40 % w/v；

2.  Zeta電位可測量樣品的粒徑范圍：3.8 nm～100 μm ，最大樣品濃度：40 % w/v ；

3. 分子量范圍：342 ^?2 ×10⁷ Da（動態(tài)光散射），  980 ^?2 ×10⁷ Da（靜態(tài)光散射）；

4.  MPT-2自動滴定儀可以控制三元滴定，滴定容量：125 ml， pH范圍：1～13；

最小滴定體積：≤0.28 ul，最大滴定速度：≥10 ml/min。

應(yīng)用領(lǐng)域

1. 廣泛應(yīng)用于石化、石油、陶瓷、粉體、涂料、化妝品、制藥、食品、水泥、軍工等各個領(lǐng)域的粒徑及Zeta電位測量；

2. 為膠體和聚合物化學(xué)專家提供綜合測量粒度、Zeta電位和分子量三項最重要的參數(shù)。