儀器簡介:功能特點:可半薄和超薄切片,以及樣品表面光滑處理,為透射電鏡、掃描電鏡、原子力顯微鏡和光鏡檢驗生物和工業(yè)樣品提供服務(wù)。優(yōu)勢:可以輕易地完成常溫/冷凍的超薄切片工作,操作方便。主要技術(shù)參數(shù):1.樣品臂步進(jìn)厚度:1 - 100 nm,步進(jìn)1 nm,旋鈕調(diào)節(jié);100 - 1000 nm,步進(jìn)10 nm,旋鈕調(diào)節(jié);1000 - 2500 nm,步
儀器簡介:功能特點:SEM主要用于固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、背散射電子像觀察及圖像處理。它既可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在微米、納米級樣品的表面特征,配備的EDS也可以支持點、線及面上的元素掃描,能準(zhǔn)確分析樣品的元素分布。。優(yōu)勢:SU8220冷場掃描電鏡采用全新設(shè)計的冷場發(fā)射電子槍大幅提高了探針
2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】 Tags: 分析儀器 微區(qū)分析 場發(fā)射掃描電子顯微鏡 電子顯微鏡
儀器簡介:功能特點:TEM用于觀察樣品內(nèi)部組織形貌,特別適用于對納米級樣品的觀測;具有結(jié)構(gòu)相的樣品,能在高倍數(shù)下觀測到晶格條紋。其中,STEM綜合掃描和普通透射電子分析的特點,可以觀察較厚的試樣和低襯度的試樣,得到原子序數(shù)襯度像。EDS支持點、線及面上的元素掃描,能準(zhǔn)確分析樣品的元素分布。優(yōu)勢:FEI Talos F200
2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】 Tags: 分析儀器 微區(qū)分析 場發(fā)射透射電子顯微鏡