儀器簡(jiǎn)介

功能：1、物相分析：定性、定量、無(wú)標(biāo)樣定量分析；

2、結(jié)構(gòu)分析：精確測(cè)定晶胞參數(shù)、指標(biāo)化；

3、薄膜分析：薄膜物相分析、次序、厚度、密度、粗糙度(0~5nm)；

4、小角散射分析：測(cè)量納米材料的粒度。

優(yōu)勢(shì)：1、林克斯一維陣列探測(cè)器相對(duì)于常規(guī)探測(cè)器強(qiáng)度提高150倍以上，靈敏度提高一個(gè)數(shù)量級(jí)；

2、配備化學(xué)反應(yīng)器（XRK900），可實(shí)現(xiàn)固體樣品在變溫狀態(tài)下（室溫～900℃）氣固反應(yīng)測(cè)試，可真空、可通氫氣、氧氣、大氣；

3、配備變溫原位附件，可實(shí)現(xiàn)-180℃～1600℃下高低溫測(cè)試，2θ可測(cè)范圍-10°~163°。高低溫模塊之間的切換只需更換加熱模塊，而無(wú)需更換整個(gè)樣品臺(tái)；而且該樣品臺(tái)為高度自動(dòng)可調(diào)樣品臺(tái)，對(duì)于不同高度的樣品均能應(yīng)付自如；

4、配備高精度XYZ樣品臺(tái)，可完成薄膜、表面分析及其他多樣性樣品測(cè)試。

主要技術(shù)參數(shù)

1、光管：Cu靶，陶瓷X光管，3 kW；最大電壓50 kV，最大電流60 mA；

2、焦斑：線焦斑0.04 mm×12 mm，點(diǎn)焦斑0.4 mm×1.2 mm；

3、測(cè)角儀：θ/θ、立式、準(zhǔn)確度0.005°、角度重復(fù)性0.0001°；

4、雙光路系統(tǒng)：平行光/聚焦光全自動(dòng)切換，光路切換精度優(yōu)于±0.0025°；入射光路可變狹縫開(kāi)口0.05~1°，樣品照射寬度1～20 mm ；微區(qū)點(diǎn)光源0.3 mm、0.5 mm、1.0 mm；

5、LYNXEYE XE探測(cè)器：高分辯能量色散陣列探測(cè)器，能量分辨率＜380 eV；具有零維、一維、二維三種測(cè)量模式；最大計(jì)數(shù)：≥1×109 CPS、線性范圍：≥1×108 CPS；

6、測(cè)角角度偏差：≤±0.01°。

應(yīng)用領(lǐng)域

應(yīng)用于材料科學(xué)、物理、化學(xué)、機(jī)械、環(huán)境科學(xué)、生物學(xué)、地質(zhì)、核能、微電子等領(lǐng)域。