儀器簡介：功能特點：SEM主要用于固態樣品表面形貌的二次電子像、背散射電子像觀察及圖像處理。它既可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在微米、納米級樣品的表面特征，配備的EDS也可以支持點、線及面上的元素掃描，能準確分析樣品的元素分布。。優勢：SU8220冷場掃描電鏡采用全新設計的冷場發射電子槍大幅提高了探針
2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】 Tags： 分析儀器 微區分析 場發射掃描電子顯微鏡 電子顯微鏡
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