儀器簡介:功能特點:FIB-SEM雙束電鏡不但能進行超高分辨的掃描電鏡觀察,也能利用FIB對試樣進行切割、加工、沉積,從事內部和截面觀察及全靜態三維表征,以及特定圖形加工工作。高性能X射線能譜儀,支持點、線及面上的元素掃描,能準確分析樣品的元素分布。優勢:超高的FIB分辨率可以進行精確的試樣加工,尤其適合進行制定
2022-01-07 【檢驗檢測常見問題】 Tags: 分析儀器 微區分析 聚焦離子束 場發射掃描 電子顯微鏡