儀器簡介:功能:配置多項拓展功能,能實現(xiàn)掃描/平行成像、XPS采譜、角分辨XPS、刻蝕深度剖析、REELS、UPS、ISS等多項功能。優(yōu)勢:配置高達0.44 eV能量分辨率的半球能量分析···
儀器簡介:功能:通過非接觸的方式進行樣品表面三維形貌觀察和測量。最高分辨率達10 nm,可以方便快捷地獲取影像,同時配備豐富的測量功能,可測量材料線粗糙度及面粗糙度。···
儀器簡介:功能:測量液滴與表面之間的粘附力;測量液體的表面/界面張力并分析表面張力中的極性力與色散力;測量固體材料(薄膜、片、棒,纖維、粉末)的接觸角;計算固體材···
儀器簡介:功能:臺階高度、粗糙度、波紋度、翹曲度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌測量及分析。低測定力模式不僅能夠避免劃傷樣品,也能對于軟性樣品進行測試,適合于各···
儀器簡介:功能:快速、可靠地測量大部分半透明或具有輕微吸收性的薄膜材料厚度、光學常數(shù)、表面粗糙度。優(yōu)勢: 實時測量和分析各種多層次的、薄的、厚的,獨立的和不均勻的···
儀器簡介:功能:AFM常用于測量樣品表面納米級形貌結(jié)構(gòu)及表面粗糙度信息,同時配置KPFM、PeakForce QNM等特殊的功能模塊,可獲取材料納米尺度的楊氏模量、粘滯力、壓電特性···